Os instrumentos de detecção comumente usados para analisar a composição denanomateriaisincluir:
1. ICP (plasma acoplado indutivamente): ICP é uma tecnologia amplamente utilizada nas áreas de química analítica e ciência de materiais. Pode ser usado para determinar o conteúdo e a composição de elementos em nanomateriais. Convertendo a amostra em íons gasosos e usando o espectro de plasma gerado para determinar a concentração dos elementos. ICP-MS (espectrômetro de massa com plasma acoplado indutivamente) combina técnicas de ICP e espectrometria de massa para analisar concentrações extremamente baixas de elementos em nanomateriais.
2. XRF (Fluoroscopia de raios X): XRF é uma tecnologia amplamente utilizada para análise de materiais e testes não destrutivos. Ele determina a composição dos elementos irradiando a superfície ou o interior da amostra com raios X e medindo a radiação fluorescente das características dos elementos na amostra. O XRF é adequado para uma variedade de nanomateriais, incluindo amostras sólidas, líquidas e em pó.
3. EDS (Espectroscopia de Raios X por Dispersão de Energia): EDS é uma técnica de microscopia eletrônica que determina a composição dos elementos em uma amostra medindo os raios X gerados pela interação entre o feixe de elétrons e a amostra no material. O EDS é frequentemente usado em conjunto com a microscopia eletrônica de varredura (MEV) para fornecer análise da composição superficial de nanomateriais.
