A microscopia eletrônica de transmissão de nanopartículas (TEM) é uma importante técnica de microscopia amplamente utilizada para observar e caracterizar a estrutura e morfologia de partículas e materiais em nanoescala.
O TEM usa feixes de elétrons de alta energia para observar os detalhes microscópicos da amostra através de fatias finas. No TEM, o feixe de elétrons é focado através de um sistema de lentes e depois passa pela amostra, interagindo com átomos ou moléculas da amostra. Ao coletar informações sobre o feixe de elétrons transmitido, podem ser obtidas imagens de alta resolução e padrões de difração da amostra, revelando assim sua estrutura interna e composição.
A seguir estão as etapas gerais para usar o TEM para testar amostras:
1. Preparação da amostra: Em primeiro lugar, é necessário preparar a amostra a ser testada em fatias de amostra suficientemente finas. Os métodos de preparação comuns incluem corte mecânico, moagem de íons, deposição centrífuga e corte por feixe de íons focado (FIB).
2. Carregamento da amostra: Coloque as fatias de amostra preparadas no suporte de amostras TEM e garanta sua fixação e estabilidade.
3. Configurações do instrumento: Defina parâmetros como tensão de aceleração, foco e funções de alinhamento necessárias para TEM. Normalmente, é necessário escolher configurações e modos de lente apropriados para obter as informações de imagem necessárias.
4. Observação e ajuste: Insira o porta-amostra no instrumento TEM e observe a amostra usando uma ocular ou microscópio. Sob ampliação apropriada, observe se a morfologia e a estrutura da amostra atendem aos requisitos e ajuste e otimize conforme necessário.
5. Captura de imagem: Selecione as configurações de lente apropriadas e o tempo de exposição para capturar imagens de alta resolução da amostra através do sistema TEM. Imagens de diferentes regiões e ângulos podem ser coletadas para obter informações mais abrangentes.
6. Análise de dados: Analise e interprete imagens TEM, incluindo medição de tamanho de partícula, morfologia de superfície, estrutura cristalina, etc. A análise do espectro de energia correspondente e a análise do padrão de difração também podem ser realizadas para obter informações sobre a composição elementar e a estrutura cristalina.
TEM é uma técnica de microscopia de alta resolução comumente usada para estudar nanopartículas, nanomateriais, nanoestruturas e muito mais. Pode fornecer observação e análise detalhadas em nanoescala, desempenhando um papel importante na compreensão das propriedades estruturais dos materiais, na morfologia e composição das nanopartículas e no estudo de fenômenos em nanoescala.
